蔡司展示了其新一代的場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FESEM)系列ZEISS GeminiSEM。新型蔡司GeminiSEM 360、460和560專為亞納米成像和輕松分析而量身定制。用戶將受益于電子光學(xué)技術(shù)的創(chuàng)新和提供更好圖像質(zhì)量，可用性和靈活性的新型腔室設(shè)計。
 
　　現(xiàn)已推出的ZEISS GeminiSEM 560首次將以ZEISS Gemini 3色譜柱推向市場。
 
　　新型蔡司GeminiSEM系列可提供任何樣品的更多信息，較大程度地減少樣品損壞并防止樣品偽影。這三種型號均采用全新的腔室設(shè)計，使研究人員能夠比以前引入更大和更多的樣品，從而使核心設(shè)施現(xiàn)在可以在一臺儀器中為更多的分析應(yīng)用提供服務(wù)。蔡司雙子座電子光學(xué)鏡筒的獨(dú)特設(shè)計以及大而靈活的新型反應(yīng)室，可滿足所有成像和分析需求。較大的腔室可實現(xiàn)可配置性和靈活性，以適應(yīng)即將到來的研究任務(wù)并優(yōu)化分析工作流程。
 
　　新型電子光學(xué)柱和智能自動駕駛儀
 
　　蔡司GeminiSEM 560設(shè)定了表面成像的新標(biāo)準(zhǔn)。引入了帶有納米雙透鏡的新型蔡司Gemini 3電子光學(xué)器件及其新型電子光學(xué)引擎Smart Autopilot，該器件經(jīng)過定制，可在以高分辨率對敏感的樣品成像時易于使用。在蔡司GeminiSEM系列產(chǎn)品中，560型在所有工作條件下均可提供較高分辨率，并在著陸能量低于1 kV時突破了浸沒和無單色表面成像的極限。
 
　　非導(dǎo)電礦物蒙脫石在斷裂表面上的納米級特征，在低著陸能量下可視化，蔡司GeminiSEM 560，Inlens SE圖像，800 V，比例尺為100 nm。
 
　　在成像和分析中提高效率和易用性
 
　　該系統(tǒng)可以輕松地從標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置過渡到高級設(shè)置。新的概覽模式簡化了樣品的定向。用戶可以輕松地從低放大率導(dǎo)航到高放大率，而無需調(diào)整列的對齊方式。該系統(tǒng)可提供同類產(chǎn)品中大的無失真視場。這樣就可以對大型的，具有挑戰(zhàn)性的樣品進(jìn)行成像，例如材料研究中的磁性樣品。改進(jìn)后的自動功能是目前世界上較快的，其自動對焦功能可在不到一秒鐘的時間內(nèi)提供聚焦圖像。