日本理學(xué)波長(zhǎng)色散XRF
德國(guó)蔡司掃描電鏡
蔡司工業(yè)CT與三維掃描儀
德國(guó)斯派克能量色散XRF
德國(guó)斯派克直讀光譜儀
德國(guó)斯派克ICP
絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)
物理材料實(shí)驗(yàn)室設(shè)備
標(biāo)準(zhǔn)樣品
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日本理學(xué)同步熱分析儀DSC8231-華普通用
日本理學(xué)同步熱分析儀DSC8231測(cè)量體重變化和吸熱或放熱反應(yīng) -
日本理學(xué)差示掃描量熱儀DSC8231-華普通用
差示掃描量熱儀DSC8231差示掃描量熱法（DSC）量化熔化、轉(zhuǎn)變、結(jié)晶和玻璃化轉(zhuǎn)變溫度等反應(yīng)中的能量變化，主要用于研發(fā);以及聚合物、制藥領(lǐng)域的質(zhì)量控制。 -
福祿克Raynger 3i Plus手持式紅外測(cè)溫儀-華普通用
Raytek? Raynger 3i Plus 高溫手持式紅外測(cè)溫儀設(shè)計(jì)用于滿足眾多工業(yè)應(yīng)用中的過程性能要求，包括原生和再生金屬加工以及石化和發(fā)電廠運(yùn)行的苛刻的高溫環(huán)境。 -
福祿克Raytek? MP150 高速線掃描紅外測(cè)溫儀-華普通用
雷泰MP150紅外行掃描儀是專為使用在高要求的工業(yè)環(huán)境中使用，并可以測(cè)得運(yùn)動(dòng)物體的準(zhǔn)確溫度圖像。 -
福祿克ThermoView TV40 工業(yè)固定式熱成像系統(tǒng)-華普通用
全天候監(jiān)控您的工藝、產(chǎn)品和生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng) -
功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)DT10-華普通用
專業(yè)測(cè)試SiC及Si基IGBT、MOSFET動(dòng)態(tài)時(shí)間參數(shù)特性，測(cè)試范圍可達(dá)3500V 4000A -
Keithley 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀-華普通用
使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測(cè)試儀）加快各類材料、半導(dǎo)體器件和先進(jìn)工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能領(lǐng)先電學(xué)特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓 -
TSI POWERSIGHT固體激光器的激光多普勒測(cè)速儀LDV-華普通用
TSI的一維、二維或三維（1D,2D或3D）激光多普勒測(cè)速（LDV）系統(tǒng)，包含 新型的PowerSight固態(tài)激光器，絕對(duì)讓您耳目一新。該款全新增強(qiáng)型系統(tǒng)整合了PowerSight模塊，該模組由最新型固態(tài)激光器 -
Chroma Model3650 SoC測(cè)試系統(tǒng)-華普通用
Chroma 3650可在一個(gè)測(cè)試頭中，提供最多512 個(gè)數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測(cè)試功能， 最高可同時(shí)測(cè)試32 個(gè)待測(cè)晶片，以提升量產(chǎn)效能。 -
BUCHI Pure 制備色譜系統(tǒng)-華普通用
Pure色譜儀非常的緊湊，確保最高水平的安全性并且易于應(yīng)用在Flash快速分離和HPLC樣品制備中。 -
檔案掃描美化系統(tǒng)-華普通用
本系統(tǒng)為圖像處理系統(tǒng)，可將文檔上的黑色裝訂孔以及黑邊等自動(dòng)處理 -
福祿克Raytek? Compact MI3 紅外測(cè)溫探頭/高溫計(jì)-華普通用
雷泰MI3紅外溫度傳感器代表在連續(xù)非接觸式溫度監(jiān)測(cè)的新一代的性能和創(chuàng)新，并廣泛應(yīng)用于OEM應(yīng)用和制造工藝中。